近红外荧光寿命成像系统(NIR-1I-LT)
近红外荧光寿命成像系统(NIR-1I-LT)产品介绍
近红外荧光寿命成像系统(NIR-1I-LT)是一款高性能的成像设备,专为科研和医学诊断等领域设计。该系统结合了先进的荧光成像技术和荧光寿命成像技术,能够提供高信噪比的图像和视频文件,同时实现高精度的荧光寿命测量。
核心特点:
-成像面积:该系统支持的最小和最大成像面积均为2cm×20cm,满足多种样本的成像需求。
-荧光寿命成像:具备荧光寿命成像功能,寿命成像范围广泛,从40微秒到20毫秒,且寿命分辨率小于5%,确保了高精度的时间分辨能力。
-高灵敏度CCD:提供三款深度制冷CCD供选择(NIRvana-ST、NIRvana-HS、NIRvana-LN),分辨率均为640×512,像素大小为20微米×20微米,响应波长覆盖近红外区域,分别适用于不同波长范围的荧光成像。
-低系统噪声:系统噪声极低,特别是NIRvana-LN型号,系统噪声小于60e,有效提升了成像质量。
-多功能性:不仅支持静态图像的拍摄,还能录制高信噪比的视频文件,适用于动态过程的观察和分析。
应用领域:
-生物医学研究:用于细胞、组织及生物分子的荧光标记和成像,帮助科学家研究生物过程、疾病机制等。
-药物研发:通过荧光寿命成像评估药物与靶标的相互作用,加速新药研发进程。
-材料科学:在纳米材料、光电器件等领域,用于研究材料的发光特性、能量转移等。
总结:
以其高灵敏度、高精度和多功能性,成为科研和医学诊断领域的重要工具,为研究者提供了强大的成像和分析能力。
参考页码:[第1-18页],[第1-2页],[第1-5页]
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